Microanalyseur ionique

Abstract
La méthode d'analyse locale décrite ci-dessous repose sur le phénomène d'émission d'ions caractéristiques arrachés à une cible solide par le bombardement d'un faisceau de particules de quelques kiloélectron-volts d'énergie. On peut soit obtenir directement des images de distribution avec une résolution d'un micron, soit, en pulvérisant graduellement l'objet, l'analyser tranche par tranche avec une résolution en profondeur de l'ordre de 100 Å. Tous les éléments peuvent être analysés

This publication has 1 reference indexed in Scilit: