Mesure de la viscosité des semiconducteurs liquides
- 1 January 1976
- journal article
- Published by EDP Sciences in Revue de Physique Appliquée
- Vol. 11 (2), 263-269
- https://doi.org/10.1051/rphysap:01976001102026300
Abstract
Nous décrivons dans cet article une méthode de mesure de la viscosité dynamique des liquides semiconducteurs. Le viscosimètre rotatif que nous avons mis au point permet de mesurer des viscosités comprises entre 0,05 et 1 000 P jusqu'à des températures de 800 °C. Dans un premier temps nous avons testé notre dispositif avec le sélénium. Nous avons vérifié que le sélénium se comporte comme un liquide newtonien. La courbe de la viscosité en fonction de l'inverse de la température absolue tracée en coordonnées semilogarithmiques présente deux singularités à 280 et 500 °C. Le fait d'avoir contrôlé l'écoulement nous permet de les associer à des variations structurales du liquide et non pas à l'établissement de turbulencesKeywords
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