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Appareil pour mesures de diffraction de rayons X à basse température
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Appareil pour mesures de diffraction de rayons X à basse température
Appareil pour mesures de diffraction de rayons X à basse température
AB
A. F. Bonfiglioli
A. F. Bonfiglioli
OT
O. Testard
O. Testard
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1 June 1964
journal article
Published by
International Union of Crystallography (IUCr)
in
Acta Crystallographica
Vol. 17
(6)
,
668-670
https://doi.org/10.1107/s0365110x64001621
Abstract
No abstract available
Keywords
APPAREIL POUR
POUR MESURES
RAYONS X
BASSE TEMPRATURE
BASSE
DIFFRACTION
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