Attachement électronique dissociatif sur HCI et DCI
- 1 January 1974
- journal article
- Published by EDP Sciences in Revue de Physique Appliquée
- Vol. 9 (2), 469-473
- https://doi.org/10.1051/rphysap:0197400902046900
Abstract
La formation des ions négatifs dans HCI et DCl est étudiée à l'aide d'un tube à ionisation totale. En plus du pic d'ions CI- observé par de nombreux auteurs, la courbe représentant le courant d'ions négatifs en fonction de l'énergie des électrons comporte deux autres pics à 6,9 et 9,2 eV. Ces pics sont attribués aux ions H- (D-). Nous avons déterminé la valeur des sections efficaces des différents processus d'attachement et mesuré les effets isotopiques correspondants. Nous obtenons :$$Keywords
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