Mécanismes de piégeage et effets de proximité dans des échantillons monograins d'alliages eutectiques lamellaires orientés

Abstract

Des mesures d'aimantation réalisées sur des échantillons massifs monograins de l'eutectique lamellaire Pb-Sn, de périodes eutectiques aE comprises entre 1,5 μm et 5 μm, montrent que les lamelles Sn restent diamagnétiques jusqu'à 7 K, (Tc (Sn massif) = 3,7 K), donc qu'il existe un très fort effet de proximité. L'allure générale des courbes d'aimantation peut s'expliquer en supposant que le principal mécanisme de piégeage est relié aux interfaces Sn/Pb. Les courbes Ic(H) obtenues pour les systèmes Pb-Sn et In2Bi-In sur des films minces à structure parfaite (épaisseur 20 μm; 1,5 μm < aE < 10 μm ; I // lamelles, H // lamelles et I) présentent un comportement particulier aux champs faibles : Ic reste constant pour H compris entre 0 et une certaine valeur H1 (∼ 50 Oe à 4,2 K). Ce comportement peut être relié à l'existence des barrières de potentiel induites par les interfaces que les lignes de flux ont à franchir successivement. Le rôle prépondérant joué par ces interfaces est confirmé par l'étude de la force volumique de piégeage Fp(b) ∝ b½(1- b) avec b = H/Hc2 ; cette dépendance particulière en b est en effet caractéristique du piégeage par des interfaces N/S