Remarque sur l'influence de la dispersion dans les systèmes de couches minces diélectriques

Abstract

On envisage successivement le cas d'une seule couche mince et celui des miroirs semi-transparents pour interféromètre de Fabry-Perot. On montre comment on peut déterminer l'épaisseur d'une couche mince non absorbante lorsque le facteur de réflexion de celui-ci est maximum et que l'on tient compte de la dispersion. On discute aussi le cas où la couche est utilisée en incidence oblique. Pour les systèmes de couches minces alternées non-absorbantes, on envisage l'influence de la dispersion sur le facteur de réflexion maximum, sur les déphasages par réflexion, sur la variation des déphasages avec la longueur d'onde et sur l'étendue de la zone de réflexion