Observation des dislocations dans le silicium à l'aide des rayons X dans le cas de la transmission anormale
- 1 January 1960
- journal article
- Published by EDP Sciences in Journal de Physique et le Radium
- Vol. 21 (8-9), 655-659
- https://doi.org/10.1051/jphysrad:01960002108-9065500
Abstract
On utilise la transmission anormale des rayons X pour faire une étude photographique des dislocations dans des cristaux parfaits de silicium. On donne une étude cristallographique des dislocations observées. Les dislocations se présentent sous la forme de fines traînées doubles, blanches et noiresKeywords
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