Rankings
Publications
Search Publications
Cited-By Search
Sources
Publishers
Scholars
Scholars
Top Cited Scholars
Organizations
About
Login
Register
Home
Publications
Prüfung zweier Verfahren zur Bestimmung von Kontaktspannungen an Halbleitern
Home
Publications
Prüfung zweier Verfahren zur Bestimmung von Kontaktspannungen an Halbleitern
Prüfung zweier Verfahren zur Bestimmung von Kontaktspannungen an Halbleitern
GM
G. Mönch
G. Mönch
Publisher Website
Google Scholar
Add to library
Cite
Download
Share
Download
1 March 1931
journal article
research article
Published by
Springer Nature
in
The European Physical Journal A
Vol. 68
(3-4)
,
244-256
https://doi.org/10.1007/bf01390969
Abstract
No abstract available
Keywords
DIE
SIND
WIRD
DER
DEM
KONTAKTSPANNUNGEN
VON
NACH GLEICH
THOMSONVERFAHREN BESTIMMTEN
BETRACHTETEN AG
Cited by 2 articles