Transformations métallurgiques accompagnant le réglage du courant critique de microponts de Dayem en film de niobium

Abstract

Le courant critique des microponts de Dayem est couramment réglé à sa valeur utile de quelques dizaines de microampères, par application d'impulsions de courant. Nous décrivons dans cet article des observations, en microscopie électronique par transmission, de microponts formés d'une couche mince de niobium microcristallin déposée sur un substrat de silicium. Une croissance cristalline des grains de niobium, accompagnée d'une contamination par le substrat, apparaît au niveau du micropont. Cette contamination semble responsable de la diminution de la température critique du micropont et ainsi de son courant critique à 4,2 K