A ZONE-PLATE APERTURE FOR ENHANCING RESOLUTION IN PHASE- CONTRAST ELECTRON MICROSCOPY
- 15 May 1966
- journal article
- Published by AIP Publishing in Applied Physics Letters
- Vol. 8 (10), 258-260
- https://doi.org/10.1063/1.1754427
Abstract
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- Numerical Evaluation of Electron Image Phase ContrastBell System Technical Journal, 1965
- Zonenplatten zur Öffnungsfehlerkorrektur und zur KontrasterhöhungThe European Physical Journal A, 1963
- Ein neuer Weg zur Erhöhung des Aufflösungsvermögens des ElektronemikroskopsThe Science of Nature, 1961