Distributions énergétique et angulaire de l'émission ionique secondaire. I. appareil expérimental
- 1 January 1966
- journal article
- Published by EDP Sciences in Revue de Physique Appliquée
- Vol. 1 (4), 273-281
- https://doi.org/10.1051/rphysap:0196600104027300
Abstract
Nous avons entrepris l'étude expérimentale de l'émission ionique secondaire, et plus particulièrement des distributions énergétique et angulaire des ions secondaires émis lors du bombardement d'un échantillon par des ions primaires d'une énergie de quelques kiloélectrons-volts. Cette première partie du Mémoire est consacrée à la description de l'appareil que nous avons utilisé : principes de conception, réalisation mécanique et mise au pointKeywords
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- Mass spectrometer for the study of sputteringVacuum, 1964
- High Efficiency Low-Pressure Ion SourceReview of Scientific Instruments, 1962
- Isotopic Abundance Determination of Copper by SputteringJournal of Applied Physics, 1962
- Design of Retarding Field Energy AnalyzersReview of Scientific Instruments, 1961
- Sputtering of copper by bombardment with ions of 5–25 keVPhysica, 1960
- On the Yield and Energy Distribution of Secondary Positive Ions from Metal SurfacesJournal of Applied Physics, 1960
- Über die Energieverteilung der Ionen aus einer Hochfrequenz-IonenquelleThe European Physical Journal A, 1960
- Secondary Positive Ion Emission from Metal SurfacesJournal of Applied Physics, 1959
- Sputtering of Surfaces by Positive Ion Beams of Low EnergyJournal of Applied Physics, 1958
- Systematic investigation of a magnetic ion source for an electromagnetic isotope separatorNuclear Instruments, 1957