Aspekte zur qualitativen und quantitativen Analyse in der Sekundärionenmassenspektrometrie
- 1 January 1974
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Abstract
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- Ion Microprobe Mass AnalyzerScience, 1972
- Beobachtung von oberflächenreaktionen mit der statischen methode der sekundärionen-massenspektroskopie. I die methodeSurface Science, 1971
- Progress in analytic methods for the ion microprobe mass analyzerInternational Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics, 1969
- Untersuchungen zur Emission positiver Sekundärionen aus festen Targets. Die Brauchbarkeit der Ionenbeschuß-Ionenquelle in der MassenspektroskopieZeitschrift für Naturforschung A, 1967
- Sputtering Ion Source for SolidsJournal of Applied Physics, 1963