Quantitative scanning electron microscopy using integrated digital image store for on-line image analysis
- 1 January 1985
- Vol. 7 (5), 239-242
- https://doi.org/10.1002/sca.4950070504
Abstract
No abstract availableThis publication has 2 references indexed in Scilit:
- Kontrastierverfahren zur Phasentrennung im Rasterelektronenmikroskop / Contrast Techniques for Phase Separation in the Scanning Electron MicroscopePractical Metallography, 1983
- Neue Entwicklungen zur bildanalytischen Partikelgrößenanalyse im Mikron‐ und Submikron‐BereichChemie Ingenieur Technik - CIT, 1977