Une méthode impulsionnelle de mesure de la durée de vie des porteurs injectés dans la zone centrale d'une structure pin

Abstract
Les méthodes usuelles [1 à 7] de mesure de la durée de vie des porteurs dans les diodes PIN permettent la détermination d'une durée de vie effective correspondant à la recombinaison totale dans la structure [7] : zone centrale (I) et extrémités fortement dopées (P+ et N+). Nous proposons une méthode impulsionnelle, de mise en oeuvre facile dans le cas de durées de vie longues (> 0,1 μs) ; nous l'interprétons comme une mesure de la durée de vie en volume dans la zone centrale