Resolution beyond the 'information limit' in transmission electron microscopy
- 1 April 1995
- journal article
- Published by Springer Nature in Nature
- Vol. 374 (6523), 630-632
- https://doi.org/10.1038/374630a0
Abstract
No abstract availableKeywords
This publication has 19 references indexed in Scilit:
- Electron Holography Surmounts Resolution Limit of Electron MicroscopyPhysical Review Letters, 1995
- Electron Image Plane Off-axis Holography of Atomic StructuresPublished by Elsevier ,1991
- Determination of atomic positions using electron nanodiffraction patterns from overlapping regions: Si[110]Ultramicroscopy, 1989
- A systematic analysis of HREM imaging of elemental semiconductorsUltramicroscopy, 1989
- A theoretical analysis of HREM imaging for 〈110〉 tetrahedral semiconductorsUltramicroscopy, 1989
- Dynamische Theorie der Kristallstrukturanalyse durch Elektronenbeugung im inhomogenen PrimärstrahlwellenfeldBerichte der Bunsengesellschaft für physikalische Chemie, 1970
- Beugung im inhomogenen Primärstrahlwellenfeld. III. Amplituden- und Phasenbestimmung bei unperiodischen ObjektenActa Crystallographica Section A, 1969
- Beugung im inhomogenen Primärstrahlwellenfeld. I. Prinzip einer Phasenmessung von ElektronenbeungungsinterferenzenActa Crystallographica Section A, 1969
- Beugung in inhomogenen Primärstrahlenwellenfeld. II. Lichtoptische Analogieversuche zur Phasenmessung von GitterinterferenzenActa Crystallographica Section A, 1969
- A New Microscopic PrincipleNature, 1948