Kossel line profiles near dislocations in GaP
- 16 June 1981
- journal article
- research article
- Published by Wiley in Physica Status Solidi (a)
- Vol. 65 (2), K175-K178
- https://doi.org/10.1002/pssa.2210650262
Abstract
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- The Applicability of Light‐Microscopical Methods for the Investigation of Dislocation Structure in SemiconductorsCrystal Research and Technology, 1979
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